EDS system (Oxford X-max)

소개

전자가 시료에 충돌하면서 발생한 특성 X선을 분석하여 성분분석을 할 수 있는 장비

이용분야

TEM 시료의 화학성분을 정성·정량적으로 분석 (STEM분석 가능)

제원

ModelAZtec Energy (X-max)
ManufactureOXFORD
Sensorsilicon drift detector (SDD)
CoolingPeltier cooling technology
Resolutionless then 125 eV at 20,000 cps
Equipment ID: e20140002